الانتقال الى المحتوى الأساسي

مركز التميز البحثي في المواد المتقدمة

الأجهزة البحثية

 

 

 

 

 

 

  • Spectrophotometer with reflection attachment

  • L.C.R

  • Cryostat (He & N)

  • Vacuum thermal evaporation units

  • X-ray diffraction (XRD)

  • Normal and vacuum ovens

  • Thickness monitor

  • Thermoelectric power and Hall effect

  • Sputring Machine

  • Atomic Absorption Spectrometer

  • Spectrophotometer 200-1100 nm

  • Surface Area and porosimetry Analyzer

  • Two FT-IR Spectrophotometers

  • 400 and 600 MHz Brucker NMR machines

  • EPR machine

  • Wetherometer

  • Thermal Analyzer

  • Differential Scanning Coulometery (DSC)

  • GC-Mass Spectrometer

  • A Number of GC Chromatograph

  • HPLC

  • Mass Spectrometry (EI)

  • New Flourometer

  • Elemental Analyzer

  • ICP

  • Scanning Electron Microscopy (SEM)

  • Transmission Electron Microscopy (TEM)

أرسل الصفحة لصديق إطبع هذه الصفحة أبلغ عن خطأ في الصفحة أضف رابط الصفحة لموقعك
آخر تحديث 4/3/2018 11:48:02 AM